Көмірдегі негізгі C, H және O элементтерінің спектрлік сызығының интенсивтілігі аз, ал калибрлеу қисығы тиімді емес, қоршаған орта атмосферасы лазермен ыдырап, плазма түзіледі, бұл көмірдегі оттегін өлшеуге кедергі келтіреді. Көмірдегі C, H және O элементтері үшін калибрлеу қисықтарын тікелей орнатудың нашар нәтижелеріне бағытталған бұл жұмыс ішкі калибрлеу қисығы ретінде Si элементінің Si I 288,2 нм атомдық спектр сызығын пайдаланады. Стандартты спектрлік сызықтардың схемасымен атмосфералық ортадағы көмір үлгілеріндегі C, H және O элементтері үшін ішкі стандартты қисықтар орнатылады, бұл тікелей калибрлеу қисықтарының нәтижелерімен салыстырғанда айтарлықтай жақсарды. Көмірдегі O элементіне атмосфераның араласуын ескере отырып, бұл жұмыста аргонды үрлеу схемасы қабылданған. Нәтижелер көмірдегі O элементін өлшеуге атмосфералық плазманың араласуын аргон ортасы жағдайында болдырмауға және көмірдегі элемент спектрлік сызығының қарқындылығын жақсартуға болатынын көрсетеді. Көмір үлгілеріндегі C, H және O элементтерінің ішкі стандартты қисықтары аргон ортасы жағдайында да белгіленді және нәтижелер атмосферадағы C, H және O элементтерінің калибрлеу нәтижелерімен салыстырғанда O элементтерін калибрлеу нәтижелері біршама жақсарғанын көрсетті.